Interfacial Compatibility in Microelectronics
Moving Away from the Trial and Error Approach
Tomi Laurila
Kirjasarja: Microsystems

Tuote ei saatavilla
Interfacial Compatibility in Microelectronics : Moving Away from the Trial and Error Approach
Lisää tuote omalle toivelistallesi ja saat halutessasi ilmoituksen sähköpostiisi, kun tuotetta tulee saataville Antikvaariin!
Haetaan tuotteita...
Teosta "Interfacial Compatibility in Microelectronics" ei välttämättä ole tällä hetkellä saatavilla Antikvaarista tai teoslistamme on vielä puutteellinen. Katsothan samankaltaiset tuotteet sekä alempaa löytyvät tuote-ehdotuksemme teokseen liittyen. Voit myös lisätä tämän teoksen toivelistallesi ja saat halutessasi ilmoituksen sähköpostiisi, kun tuotteita tulee saataville.
Siirry tuotehakuun
Samankaltaiset tuotteet
Tuotteita ei löytynyt. Voit selailla kirjailijan teoksia klikkaamalla kirjailijan nimeä tai etsi muita kirjoja hakukoneemme avulla.
Tiedot
Kustantaja/julkaisija
Springer London
Sidosasu
ISBN
1447124707
9781447124702
Kieli
englanti
Alkuperäinen nimi
-
Kaikki tekijät
Tomi Laurila
Kirjasarja
Microsystems
Tuotekategoriat
Esittely
s:1233:"Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the “traditional” method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced. In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes: solutions to several common reliability issues in microsystem technology, methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA. Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.";
