Precision prism coupling setup applied to measure planar silica films on silicon
Päivi Heimala
Kirjasarja: Report series in physics / University of Helsinki, osa 258
Tuote ei saatavilla
Precision prism coupling setup applied to measure planar silica films on silicon
Lisää tuote omalle toivelistallesi ja saat halutessasi ilmoituksen sähköpostiisi, kun tuotetta tulee saataville Antikvaariin!
Haetaan tuotteita...
Teosta "Precision prism coupling setup applied to measure planar silica films on silicon" ei välttämättä ole tällä hetkellä saatavilla Antikvaarista tai teoslistamme on vielä puutteellinen. Katsothan samankaltaiset tuotteet sekä alempaa löytyvät tuote-ehdotuksemme teokseen liittyen. Voit myös lisätä tämän teoksen toivelistallesi ja saat halutessasi ilmoituksen sähköpostiisi, kun tuotteita tulee saataville.
Siirry tuotehakuun
Samankaltaiset tuotteet
Tuotteita ei löytynyt. Voit selailla kirjailijan teoksia klikkaamalla kirjailijan nimeä tai etsi muita kirjoja hakukoneemme avulla.
Tiedot
Kustantaja/julkaisija
University of Helsinki, Department of Physics
Sidosasu
ISBN
9514561430
9789514561436
Kieli
englanti
Alkuperäinen nimi
-
Kirjasarja
Report series in physics / University of Helsinki, osa 258